Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

-15% su kodu: ENG15
215,97 
Įprasta kaina: 254,08 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
215,97 
Įprasta kaina: 254,08 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 254.0800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Knygos aprašymas

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.

Informacija

Autorius: Xiong Du, Jun Zhang, Rui Du, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Gaoxian Li,
Serija: CPSS Power Electronics Series
Leidėjas: Springer Nature Singapore
Išleidimo metai: 2022
Knygos puslapių skaičius: 188
ISBN-10: 9811931313
ISBN-13: 9789811931314
Formatas: 241 x 160 x 16 mm. Knyga kietu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System“

Būtina įvertinti prekę