Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27¿31, 1979

-15% su kodu: ENG15
143,97 
Įprasta kaina: 169,38 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
143,97 
Įprasta kaina: 169,38 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 169.3800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Informacija

Serija: Springer Series in Chemical Physics
Leidėjas: Springer Berlin Heidelberg
Išleidimo metai: 2011
Knygos puslapių skaičius: 320
ISBN-10: 3642618731
ISBN-13: 9783642618734
Formatas: 229 x 152 x 18 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27¿31, 1979“

Būtina įvertinti prekę