Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

-15% su kodu: ENG15
114,50 
Įprasta kaina: 134,71 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
114,50 
Įprasta kaina: 134,71 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 134.7100 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Knygos aprašymas

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.

Informacija

Autorius: Fred Stevie
Leidėjas: Momentum Press
Išleidimo metai: 2015
Knygos puslapių skaičius: 290
ISBN-10: 1606505882
ISBN-13: 9781606505885
Formatas: 229 x 152 x 16 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization“

Būtina įvertinti prekę