0 Mėgstami
0Krepšelis

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

-20% su kodu: BOOKS
156,41 
Įprasta kaina: 195,51 
-20% su kodu: BOOKS
Kupono kodas: BOOKS
Akcija baigiasi: 2025-03-09
-20% su kodu: BOOKS
156,41 
Įprasta kaina: 195,51 
-20% su kodu: BOOKS
Kupono kodas: BOOKS
Akcija baigiasi: 2025-03-09
-20% su kodu: BOOKS
2025-03-31 156.41 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Informacija

Autorius: D. K. Bowen, Brian K. Tanner,
Leidėjas: CRC Press
Išleidimo metai: 2019
Knygos puslapių skaičius: 264
ISBN-10: 0367400634
ISBN-13: 9780367400637
Formatas: 246 x 174 x 14 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography“