Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy

-15% su kodu: ENG15
22,03 
Įprasta kaina: 25,92 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
22,03 
Įprasta kaina: 25,92 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 25.9200 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Knygos aprašymas

For the electronic and optoelectronic device realization a precise control of the electrical properties in the utilized material is a very important issue. Doping profiles in realized p-njunctions influence the functionality of the devices. The morphological and crystal properties of a device material directly influence the electrical ones. Dislocations present in a region of p-n-junctions can short circuit them leading to malfunctions. Too rough surfaces during epitaxial growth could lead to inhomogeneities in a single or multiple quantum wells and superlattices.

Informacija

Autorius: Vladimir Petukhov
Leidėjas: Cuvillier
Išleidimo metai: 2012
Knygos puslapių skaičius: 112
ISBN-10: 3954040840
ISBN-13: 9783954040841
Formatas: 210 x 148 x 6 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Electrical Characterization of ZnO thin films grown by molecular beam epitaxy“