Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications

-15% su kodu: ENG15
48,81 
Įprasta kaina: 57,42 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
48,81 
Įprasta kaina: 57,42 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 57.4200 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 10,00 

Knygos aprašymas

This book focus upon AFM working principle, its different modes (i.e., contact, non-contact and tapping modes), analysis of some AFM result and few applications also. this book also underline the features of AFM as high versatile and useful morphological tool to scan a large variety of surfaces, with a planar resolution ranging from nano ¿meter sclae down to atomic scale. We hope this book may helpful to researcher and student to understand the basic concept of AFM as well as performing with it for different kind of samples.

Informacija

Autorius: Vanarajsinh Solanki, Abhay Dasadiya, Pramita Mishra,
Leidėjas: LAP LAMBERT Academic Publishing
Išleidimo metai: 2019
Knygos puslapių skaičius: 60
ISBN-10: 6200247242
ISBN-13: 9786200247247
Formatas: 220 x 150 x 4 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications“