0 Mėgstami
0Krepšelis

Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.

-22% su kodu: BOOKS
94,29 
Įprasta kaina: 120,89 
-22% su kodu: BOOKS
Kupono kodas: BOOKS
Akcija baigiasi: 2025-03-30
-22% su kodu: BOOKS
94,29 
Įprasta kaina: 120,89 
-22% su kodu: BOOKS
Kupono kodas: BOOKS
Akcija baigiasi: 2025-03-30
-22% su kodu: BOOKS
2025-03-31 94.29 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 20,00 

Informacija

Autorius: Regina Post
Serija: Solare Energie- und Systemforschung
Leidėjas: Fraunhofer Verlag
Išleidimo metai: 2023
Knygos puslapių skaičius: 172
ISBN-10: 3839619173
ISBN-13: 9783839619179
Formatas: 205 x 145 x 11 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si.“