Advances in X-Ray Analysis: Volume 10

-15% su kodu: ENG15
71,98 
Įprasta kaina: 84,68 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
71,98 
Įprasta kaina: 84,68 
-15% su kodu: ENG15
Kupono kodas: ENG15
Akcija baigiasi: 2025-03-03
-15% su kodu: ENG15
2025-02-28 84.6800 InStock
Nemokamas pristatymas į paštomatus per 11-15 darbo dienų užsakymams nuo 10,00 

Knygos aprašymas

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses­ sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Informacija

Autorius: Gavin R. Mallett, John B. Newkirk,
Leidėjas: Springer New York
Išleidimo metai: 2012
Knygos puslapių skaičius: 572
ISBN-10: 1468478370
ISBN-13: 9781468478372
Formatas: 254 x 178 x 31 mm. Knyga minkštu viršeliu
Kalba: Anglų

Pirkėjų atsiliepimai

Parašykite atsiliepimą apie „Advances in X-Ray Analysis: Volume 10“

Būtina įvertinti prekę

Goodreads reviews for „Advances in X-Ray Analysis: Volume 10“