Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Patrick Girard

Rasta: 1
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
-15% su kodu: ENG15
144,18 
169,62 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Rasta: 1