Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Manoj Sachdev

Rasta: 5
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
-15% su kodu: ENG15
287,96 
338,78 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
-15% su kodu: ENG15
287,96 
338,78 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
-15% su kodu: ENG15
143,97 
169,38 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
-15% su kodu: ENG15
244,77 
287,96 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test
-15% su kodu: ENG15
230,37 
271,02 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Rasta: 5