Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

José Pineda de Gyvez

Rasta: 4
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
-15% su kodu: ENG15
287,96 
338,78 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
-15% su kodu: ENG15
287,96 
338,78 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
-15% su kodu: ENG15
143,97 
169,38 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
-15% su kodu: ENG15
71,98 
84,68 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Rasta: 4