Atnaujintas knygų su minimaliais defektais pasiūlymas! Naršykite ČIA >>

Cher Ming Tan

Rasta: 4
ELECTROMIGRATION IN ULSI INTERCONNECTI..
-15% su kodu: ENG15
200,56 
235,95 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
-15% su kodu: ENG15
143,97 
169,38 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
-15% su kodu: ENG15
71,98 
84,68 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
-15% su kodu: ENG15
143,97 
169,38 
Išsiųsime per 11-15 d. d.
Rasta: 4